Publikationsdetails
| Autor_innen | Siyang Hu,
Sofiane Bouhedma,
Arwed Schütz,
Simon Stindt,
Dennis Hohlfeld,
Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability (Band 120) |
| Verlag | Elsevier |
| DOI |