• Publikationsdetails

    Autoren
    M.Sc. Siyang Hu, Sofiane Bouhedma, M.Eng. Arwed Schütz, Simon Stindt, Prof. Dr.-Ing. Dennis Hohlfeld, Prof. Dr.-Ing. Tamara Bechtold
    Publikationsjahr

    2021

    Erschienen in

    Microelectronics reliability

    DOI