Publikationsdetails
| Autor_innen | Siyang Hu,Sofiane Bouhedma,Arwed Schütz,Simon Stindt,Dennis Hohlfeld,Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| DOI |
| Autor_innen | Siyang Hu,Sofiane Bouhedma,Arwed Schütz,Simon Stindt,Dennis Hohlfeld,Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| DOI |