Publikationsdetails
| Autor_innen | Arwed Schütz,Michael Olbrich,Siyang Hu,Christoph Ament,Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| DOI |
| Autor_innen | Arwed Schütz,Michael Olbrich,Siyang Hu,Christoph Ament,Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| DOI |