Publikationsdetails
| Autor_innen | Arwed Schütz,
Michael Olbrich,
Siyang Hu,
Christoph Ament,
Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability (Band 119) |
| Verlag | Elsevier |
| DOI |