Publikationsdetails
| Autoren | M.Eng. Arwed Schütz, Michael Olbrich, M.Sc. Siyang Hu, Christoph Ament, Prof. Dr.-Ing. Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| DOI |
| Autoren | M.Eng. Arwed Schütz, Michael Olbrich, M.Sc. Siyang Hu, Christoph Ament, Prof. Dr.-Ing. Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2021 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| DOI |