Publikationsdetails
| Autor_innen | S. Hu,C. Yuan,A. Castagnotto,B. Lohmann,S. Bouhedma,D. Hohlfeld,T. Bechtold |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| Seiten | 148-155 |
| DOI |
| Autor_innen | S. Hu,C. Yuan,A. Castagnotto,B. Lohmann,S. Bouhedma,D. Hohlfeld,T. Bechtold |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| Seiten | 148-155 |
| DOI |