Publikationsdetails
| Autor_innen | S. Hu,
C. Yuan,
A. Castagnotto,
B. Lohmann,
S. Bouhedma,
D. Hohlfeld,
T. Bechtold |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability (Band 85) |
| Seiten | 148-155 |
| Verlag | Elsevier |
| DOI |