• Publikationsdetails

    Autoren
    M.Sc. Siyang Hu, M.Sc. Chengdong Yuan, A. Castagnotto, B. Lohmann, S. Bouhedma, D. Hohlfeld, Prof. Dr.-Ing. Tamara Bechtold
    Publikationsjahr

    2018

    Erschienen in

    Microelectronics reliability

    Seiten

    148-155

    DOI