Publikationsdetails
| Autoren | M.Sc. Siyang Hu, M.Sc. Chengdong Yuan, A. Castagnotto, B. Lohmann, S. Bouhedma, D. Hohlfeld, Prof. Dr.-Ing. Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| Seiten | 148-155 |
| DOI |
| Autoren | M.Sc. Siyang Hu, M.Sc. Chengdong Yuan, A. Castagnotto, B. Lohmann, S. Bouhedma, D. Hohlfeld, Prof. Dr.-Ing. Tamara Bechtold |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Erschienen in | Microelectronics reliability |
| Seiten | 148-155 |
| DOI |